一針便知有沒有！用C-AFM找出3D IC異常點

[@iSTgroupTW]

📍【相關文章】：高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼 pse.is/240116YTweb
📍【延伸觀看】：CIS持續躍進、車用市場潛力高，但遇上晶片異常該怎麼辦？ ruclips.net/video/HEnN6Dw25JU/видео.html

[@Msjessica0726]

兩個主持人都好可愛喔!! 一定要看到最後的NG片段~

[@iSTgroupTW]

感謝支持，最後的NG畫面真的超可愛XDDDD
也代表主持人有多崩潰XDDD

[@swattliang6856]

介紹中有提到 "當gate 漏電，SEM VC 不一定能發現異常"，請問在gate什麼漏電狀態下會發生 SEM VC 無法發現異常?

[@iSTgroupTW]

您好~如果在NMOS是大塊poly架構的漏電(漏到S/D)，通常在低kV的SEM VC觀察下，異常就會不明顯。以上是案例之一，若您有其他疑問歡迎Email或Line洽詢小編唷，謝謝